ГОСТ Р 8.628—2007ГСИ. Меры рельефные нанометровогодиапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления

ГОСТ Р 8.629—2007ГСИ. Меры рельефные нанометровогодиапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки

ГОСТ Р 8.630—2007 ГСИ. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки

ГОСТ Р 8.631—2007 ГСИ. Микроскопы электронные растровые. Методика поверки

ГОСТ Р 8.635—2007ГСИ. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методикакалибровки

ГОСТ Р 8.636—2007ГСИ. Микроскопы электронные растровые. Методикакалибровки

ГОСТ Р 8.644—2008ГСИ. Меры рельефные нанометровогодиапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика калибровки

ГОСТ Р 8.696—2010ГСИ. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра

ГОСТ Р 8.697—2010ГСИ. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа

ГОСТ Р 8.698—2010ГСИ. Размерные параметры наночастици тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоугловогорентгеновского дифрактометра

ГОСТ Р 8.700—2010ГСИ. Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа

ГОСТ Р ИСО 22309ГСИ. Микроанализ
электронно-зондовый. Количественный анализ с использованием энергодисперсионной спектрометрии для элементов с атомным номером от 11 (Na) и выше.

ГОСТ Р ИСО 13067 ГСИ. Микроанализ электронно-зондовый. Дифракция обратнорассеянных электронов. Измерение среднего размера зерна

ГОСТ Р ИСО 16242ГСИ. Химический анализ поверхности. Оже-электронная спектроскопия. Регистрация и представление данных

ГОСТ Р ИСО 16243ГСИ. Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Регистрация и представление данных

ФГУП «Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума»

© ФГУП «НИЦПВ», 2019
ТЕЛ: +7 (495) 287 17 73E-MAIL: nicpv@gkx48.ru
Адрес: 117331, г. Москва, ул. Кравченко, д. 8
Официальные ресурсы
Президент Российской ФедерацииПравительство Российской ФедерацииГИС ПромышленностиФГИС Росстандарта Контрольно-надзорная деятельность